現在の位置 ： トップページ > 商品テスト・回収情報 > 商品テストの実施機関 > （一財）日本電子部品信頼性センター 環境試験所
（一財）日本電子部品信頼性センター 環境試験所
住所・電話番号・FAX・URL等
〒203-0042 東久留米市八幡町1-1-12
TEL:042-471-5142 FAX:042-472-4961
URL: http://www.rcj.or.jp
機関分類
一般財団法人・一般社団法人
受入商品分類（商品別）
住居品
受入商品分類（主な商品別）
家電製品
受入可能商品・品目
電子部品が使用されている電気・電子製品
受入試験の種類及び受入者
試験種類／受入者区分
※受け入れ区分については（個人、行政機関、企業・団体、その他）がございます。
- 規格・基準への適合性試験
- 行政機関/企業・団体
- 性能・成分等の計測・分析試験
- 行政機関/企業・団体
- 苦情・事故等の原因究明のための試験
- 行政機関/企業・団体
- その他
試験項目
試験項目／試験内容
- 環境試験
- 耐熱性試験、耐寒性試験、耐湿性（定常状態）試験、耐湿性（温湿度サイクル, 結露）試験、温度サイクル試験、熱衝撃試験（空気及び液槽式）、塩水噴霧試験、腐食性ガス試験（SO２, H２S, Cl２, NO２）、日射環境試験、
- 振動試験（正弦波,ランダム波,地震波形ショック波試験, 三軸同時加振可能）、衝撃試験（ハンマー試験含む）、バンプ試験、プレッシャ・クッカ試験（飽和, 不飽和）、耐火性試験、温度・高度試験、複合環境試験（温度＋振動, 温湿度＋振動）、
- 定加速度試験（100G-100000G）、落下衝撃試験、耐水試験、はんだ付け性試験（はんだ槽法，平衡法，ソルダーペースト平衡法，フロー/リフロー法）、耐エロージョン性試験、ウィスカ評価試験
- 電子部品等の電気的特性試験
- 抵抗器、コンデンサ、トランジスタ、ダイオ−ド、ＩＣ等の電気的特性試験、光部品・光半導体デバイスの光学的、電気的特性試験の実施及び半導体の静電気破壊強度試験及びラッチアップ強度測定等
- 品質評価試験
- 電気・電子製品及び電子部品等の信頼性評価試験、寿命診断試験、品質評価試験、実装評価試験、故障解析
試験施設・設備等
〈耐候性試験装置〉恒温槽（30〜500℃）、恒 温 恒 湿 槽（-70〜150℃, 20〜95%RH）、結露試験装置（-30〜100℃, 40〜95％RH）、恒圧恒温恒湿槽（-70〜180℃, 20〜95%RH, 760〜1mmHg）、恒温恒湿室（-40〜80℃, 20〜95%RH）、熱衝撃試験装置（-70〜200℃, 空気槽, 全自動）、（-65〜150℃, 液槽式, 全自動）、恒温水槽・油槽（10〜200℃）、塩水噴霧試験装置（5〜50℃, ISO方式）、高度加速寿命試験装置（105〜168℃, 65〜100%RH）、ガス試験装置（H２S, SO２, Cl2, NO2, 0.1〜100ppm, 25〜60℃, 40〜95%RH）、ｷｾﾉﾝｻﾝｼｬｲﾝｳｪｻﾞﾒｰﾀ（ｶｰﾎﾞﾝｱｰｸ灯,63〜83℃, 35〜70%RH）
〈機械的試験装置〉振動試験装置（1〜4000Hz, 2000kｇ-G, 三軸方向加振可能）、衝撃試験装置（10〜5000G, 0.1〜60ms）、落下衝撃試験機（28〜183cm）、遠心定加速度試験装置（100〜30000G）、複合環境振動試験装置（温度＋振動又は温度サイクル＋振動）、万能試験機（ロードセル100N，500N，5kN）、電磁力式微小荷重試験機（0〜100Hz, Max100N,Max±10mm）
〈その他の試験装置〉はんだ付け性試験器（200〜400℃）、はんだ付け性能試験機 (常温〜400℃，ｿﾙﾀﾞｰﾍﾟｰｽﾄ平衡法) 、ソルダーチェッカ（常温〜400℃，平衡法，ﾌﾛｰ部品用）、耐電圧試験器（AC, DC, 0〜20kV）、燃焼試験装置（ｸﾞﾛｰﾜｲﾔ, ﾆｰﾄﾞﾙﾌﾚｰﾑ）、静電気耐性試験装置（ラッチアップ試験可能）、不連続検出器（ｺﾈｸﾀ瞬断計測評価ｼｽﾃﾑ、開路・閉路）
〈電源装置〉直流定電圧定電流電源（0〜500V, 0〜20A）、可変周波数電源（5〜1100Hz, 0〜288V, 6kVA）、電圧調整装置（10kVA, 0〜260V, 30A）、トランス（0〜1000V, 90A）、基準電圧発生器、基準電圧電流発生器、プログラマブル電源、高圧直流電源
〈測定装置〉容量測定器類 （LCRﾒｰﾀ）、抵抗測定器類（ﾃﾞｼﾞﾀﾙﾏﾙﾁﾒｰﾀ, 絶縁抵抗計, ﾐﾘｵｰﾑﾒｰﾀ，ﾌﾟﾘﾝﾄ基板･はんだ導体抵抗評価ｼｽﾃﾑ,ｲｵﾝﾏｲｸﾞﾚｰｼｮﾝ評価ｼｽﾃﾑなど）、半導体測定器類（半導体パラメータアナライザ，カーブトレーサ）、電圧測定器類 （ﾃﾞｼﾞﾀﾙﾏﾙﾁﾒｰﾀなど）、波形, 位相測定器その他（ﾃﾞｼﾞﾀﾙｽﾄﾚｰｼﾞｽｺｰﾌﾟなど）、光デバイス測定システム、光半導体測定システム（I-Lテスタ）、光スペクトラム・アナライザ、光半導体測定システム（I-Lテスタ）、光コンポーネント環境試験システム
〈記 録 計〉（ﾊｲﾌﾞﾘｯﾄﾞﾚｺｰﾀﾞ, X-Yﾚｺｰﾀﾞなど） 24台
〈標 準 器〉標準コンデンサ、標準抵抗器、標準温度計、直流標準電圧電流発生器、交流標準電圧電流発生器、ユニバーサルカウンタ、ホイートストンブリッヂ、デジタルマルチメータ
〈媒体関係〉クリ−ンル−ム(36.6m2, ｸﾗｽ10000, 23±1℃, 50±3%RH)、デ−タカセットテ−プ測定システム、磁気テープカートリッジ測定システム、フレキシブルディスク測定システム、光磁気ディスク測定システム
試験料金
- 有料
- 試験内容に対する見積もりによる
事業所・出張所等
事業登録・認定・認証等
ISO/IEC17025認定取得（JAB)
受け入れ商品別機関一覧
| 食料品 | 住居品 | 光熱水品 | 被服品 | 保健衛生品 | 教養娯楽品 | 車両・乗り物 | 土地・建物・設備 | 他の商品 || 全機関 |
